Volume imaging by tracking sparse topological features in electron micrograph tilt series

T. C. Petersen*, C. Zhao, E. D. Bøjesen, N. L.N. Broge, S. Hata, Y. Liu, J. Etheridge

*Corresponding author af dette arbejde

Publikation: Bidrag til tidsskrift/Konferencebidrag i tidsskrift /Bidrag til avisTidsskriftartikelForskningpeer review

Fingeraftryk

Dyk ned i forskningsemnerne om 'Volume imaging by tracking sparse topological features in electron micrograph tilt series'. Sammen danner de et unikt fingeraftryk.

Material Science

Medicine and Dentistry

Engineering