Aarhus University Seal / Aarhus Universitets segl

Distinguishability revisited: Depth dependent bounds on reconstruction quality in electrical impedance tomography

Publikation: Bidrag til tidsskrift/Konferencebidrag i tidsskrift /Bidrag til avisTidsskriftartikelForskningpeer review

  • Henrik Garde
  • Kim Knudsen, Danmarks Tekniske Universitet, Danmark
OriginalsprogEngelsk
TidsskriftSIAM Journal on Applied Mathematics
Vol/bind77
Nummer2
Sider (fra-til)697-720
ISSN0036-1399
StatusUdgivet - 2017
Eksternt udgivetJa

Se relationer på Aarhus Universitet Citationsformater

ID: 196366812