-
Uddannelse
Find uddannelse
Studievejledning
Kvalitet
- Forskning
-
Samarbejde
Virksomheder
Kommuner og regioner
Gymnasier
Myndigheder
-
Om AU
Organisation
Kontakt
Du er her: AU » Om AU » Organisation
» Hooman Farkhani
»
Publikationer
»
Comparative Study of FinFETs versus 22nm Bulk CMOSs: SRAM...
Om AU
- Organisation
- Ledelse
- Strategi
- AU i tal
- AU's historie
- Internationalt samarbejde
- Bæredygtighed
- Campus 2.0
- Diversitet og ligestilling
- Ledige stillinger
- Presse
- Kontakt
Hooman Farkhani
Comparative Study of FinFETs versus 22nm Bulk CMOSs: SRAM Design Perspective
Publikation: Konferencebidrag › Paper › Forskning › peer review
- Hooman Farkhani
- Ali Peiravi, Ferdowsi University of Mashhad, Iran
- Jens Kargaard Madsen ,
- Farshad Moradi
| Originalsprog | Engelsk |
|---|---|
| Udgivelsesår | 2014 |
| Status | Udgivet - 2014 |
Se relationer på Aarhus Universitet Citationsformater
ID: 118993014