On-Chip Millimeter-Wave Cold-Source Noise Figure Measurements With PNA-X

Publikation: Forskning - peer reviewTidsskriftartikel

DOI

  • Domenico Pepe
    Domenico PepeDISMI, Università di Modena e Reggio Emilia
  • Clive Barnett
    Clive BarnettKeysight Technologies Ltd., Wokingham
  • Giovanni DÁmore
    Giovanni DÁmoreKeysight Technologies Netherlands B.V.
  • Domenico Zito
OriginalsprogEngelsk
TidsskriftIEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
Vol/bind66
Tidsskriftsnummer12
Sider (fra-til)3399-3401
Antal sider3
ISSN0018-9456
DOI
StatusUdgivet - 27 sep. 2017

Se relationer på Aarhus Universitet Citationsformater

ID: 118211127