On-Chip Millimeter-Wave Cold-Source Noise Figure Measurements With PNA-X

Publikation: Bidrag til tidsskrift/Konferencebidrag i tidsskrift /Bidrag til avisTidsskriftartikel

DOI

    Domenico Pepe, DISMI, Università di Modena e Reggio Emilia, Clive Barnett, Keysight Technologies Ltd., Wokingham, Giovanni DÁmore, Keysight Technologies Netherlands B.V.,
  • Domenico Zito
OriginalsprogEngelsk
TidsskriftIEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
Vol/bind66
Tidsskriftsnummer12
Sider (fra-til)3399-3401
Antal sider3
ISSN0018-9456
DOI
StatusUdgivet - 27 sep. 2017

Se relationer på Aarhus Universitet Citationsformater

ID: 118211127